Thiết bị phân tích huỳnh quang tia X MESA-50 (Thiết Bị Phân Tích RoHS/WEEE & ELV)

Lượt xem:
39
Thương hiệu:
Horiba - Nhật
Giá:
Liên hệ

- HORIBA cung cấp các thiết bị phân tích huỳnh quang tia X seri XGT-WR trên thị trường trong nhiều năm qua để mang tới phương pháp đo nhanh các mẫu có chứa các nguyên tố độc hại như Pb, Cd, Hg, Cr, Br, Sb, As cho RoHS, ELV, và Cl cho các ứng dụng halogen free...
- Thiết bị MESA-50 của HORIBA đáp ứng các yêu cầu về sinh thái; không chỉ góp phần vào việc kiểm tra RoHS và ELV theo tiêu chuẩn châu Âu mà còn tuân theo các quy định của nhiều nước khác.

Dệt May Giày Da Thực Phẩm Bánh Kẹo Thức Ăn Chăn Nuôi Dược Phẩm Môi Trường Ô tô - Xe máy Điện tử Cao Su Đồ Chơi Nội Thất Y Tế

1/ Giới thiệu Thiết bị MESA-50 của HORIBA:

- Thiết bị MESA-50 của HORIBA đáp ứng các yêu cầu về sinh thái; không chỉ góp phần vào việc kiểm tra RoHS và ELV theo tiêu chuẩn châu Âu mà còn tuân theo các quy định của nhiều nước khác.

2/ Đặc điểm

- Tốc độ : Đầu dò Silic (SDD) giúp giảm thời gian phân tích và tăng độ nhạy giúp phân tích đạt năng suất cao.

- Kích thước nhỏ gọn

+ Kết cấu nhỏ gọn, có thể di chuyển được, trọng lượng nhẹ

+ Tích hợp bộ cấp nguồn bằng pin bên trong

-Đơn giản

+ Giảm bớt công tác bảo trì (vận hành không cần Nitơ lỏng)

+ Không cần bơm chân không

+ Quá trình đo đơn giản trực quan cho tất cả các loại vật liệu

-Thông minh

+ Giao diện tiếng Anh/ Tiếng Nhật/ Tiếng Trung

+ Công cụ quản lý dữ liệu Excel^®

-An toàn : Không phải lo lắng về sự dò rỉ tia X

3/ Thông số kỹ thuật :

Thông số cơ bản	Nguyên lý	Phổ huỳnh quang tia X tán xạ năng lượng
	Mục tiêu ứng dụng	RoHS, ELV, Halogen Free
	Nguyên tố đo	13Al - 92U
	Loại mẫu	Rắn, Lỏng, Bột
Bộ phát tia X	Ống tia X	Max 50kV, 0.2mA
	Kích thước chiếu tia X	1.2mm, 3mm, 7mm (Tự động chuyển đổi)
	Bộ lọc tia X chính	4 loại (tự động chuyển đổi)
Detector	Loại	SDD (Đầu dò silic)
Detector	Bộ xử lý tín hiệu	Bộ xử lý xung kỹ thuật số
Buồng mẫu	Môi trường đo	Không khí
Buồng mẫu	Quan sát mẫu	CCD camera
Tiện ích	Vận hành	PC (Windows^® 7)
	Bộ cấp nguồn	AC adapter (100-240V, 50/60Hz)
	Bộ cấp nguồn	Pin

Tập tin PDF:

Sản phẩm cùng loại

Chi tiêt Xem nhanh

Máy đo nhiệt trị (Nhiệt lượng kế) SDACM3200

Hãng sx: Sundy - Trung Quốc

SDACM3200 có thể được sử dụng để xác định nhiệt trị của chất cháy rắn và lỏng như than, than cốc, dầu mỏ, bột đen xi măng, nhiên liệu sinh khối cũng như vật liệu xây dựng. Mô hình hiệu quả nhất về chi phí với kết quả đáng tin cậy. Thời gian phân tích ≤14 phút

Liên hệ

Chi tiêt Xem nhanh

STADI P Máy nhiểu xạ X phân tích đặc tính chất xúc tác hiệu quả về chi phí

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

● Nhiều loại đầu dò tia X đếm photon đơn. ● Bức xạ Kα1 tinh khiết sử dụng nguồn Co, Cu, Mo và Ag. ● Chế độ truyền/Debye-Scherrer hoặc Bragg-Brentano.

Liên hệ

Chi tiêt Xem nhanh

STADIVARI Máy nhiễu xạ X dọc/ngang linh hoạt dành cho tinh thể/bột, chùm tia kép, X-AREA

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

● Goniometer linh hoạt (giá đỡ Eulerian và nhiều thiết lập chi cố định khác nhau) ● Vùng nhiễu xạ có bán kính nhỏ hơn 0,005 mm ● Đầu dò pixel lai siêu nhanh (phạm vi đầu dò đầy đủ của EIGER và PILATUS)

Liên hệ

Chi tiêt Xem nhanh

STADI MP Máy nhiễu xạ đa hình học với nhiễu xạ vi mô, đầu dò đa năng, tùy chọn nhiệt độ.

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

● Nhiều đầu dò tia X đếm photon đơn. ● Phụ kiện nhiệt độ cao và thấp. ● Lựa chọn hình học bằng cách trượt vỏ ống.

Liên hệ

Chi tiêt Xem nhanh

Máy nhiễu xạ tia X di động Lattice GO

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

● XRD nhỏ gọn, trọng lượng nhẹ, dễ dàng mang theo. ● Cho kết quả chính xác trong vòng vài phút. ● Phân tích ở bất cứ đâu / Goniometer góc rộng (0°-130°/ -3°-156°).

Liên hệ

$Máy phân tích nhiễu xạ tia X InSight (X-Ray Diffraction)$

Chi tiêt Xem nhanh

Máy phân tích nhiễu xạ tia X InSight (X-Ray Diffraction)

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

● Được thiết kế để kiểm tra nhiễu xạ tia X truyền qua tại chỗ đối với cell dạng túi. ● Thu thập đồng thời dữ liệu nhiễu xạ tia X của cực âm/cực dương. ● Phạm vi kiểm soát nhiệt độ: -30°C đến 300°C.

Liên hệ

Chi tiêt Xem nhanh

Thiết Bị Phân Tích Diện Tích Bề Mặt & Kích Thước Mao Quản Meso

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

- Dòng AMI Meso112/222 được thiết kế để xác định diện tích bề mặt và kích thước lỗ xốp với độ chính xác cao của vật liệu dạng bột. Dòng sản phẩm này bao gồm hai mẫu, Meso 112 và Meso 222, cả hai đều được tích hợp bộ chuyển đổi áp suất 1000 torr tại mỗi trạm phân tích để xác định diện tích bề mặt BET chính xác và phân tích sự phân bố kích thước lỗ xốp trung bình. - Mỗi cổng phân tích được trang bị một mô-đun khử khí tại chỗ có khả năng làm nóng mẫu lên đến 400°C, đảm bảo loại bỏ hiệu quả các chất gây ô nhiễm hấp thụ trước khi phân tích. Quá trình khử khí tại chỗ này giúp loại bỏ nguy cơ ô nhiễm liên quan đến việc chuyển mẫu. Ngoài ra, khi sử dụng nhiều trạm, mỗi trạm hoạt động độc lập, cho phép phân tích đồng thời nhưng riêng biệt các mẫu khác nhau.

Liên hệ

Chi tiêt Xem nhanh

Máy phân tích hấp thụ khí RuboSORP MSB

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

– Phân tích chất hấp thụ trong vật liệu, cho phép đo 02 mẫu đồng thời – Cân treo từ trang được bảo vệ mẫu để tăng cường phản ứng giữa mẫu và môi trường. – Phần mềm được sử dụng để kiểm soát cân và tính toán giá trị

Liên hệ

Chi tiêt Xem nhanh

Máy đo tỷ trọng, thể tích và độ xốp vật liệu Densi 100

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

- Thiết bị sử dụng phương pháp dịch chuyển khí (Gas displacement), với kết cấu nhỏ gọn, không cồng kềnh và các thao tác trở nên đơn giản hơn. - Phương pháp này với ưu điểm chính xác hơn và có khả năng tái tạo hơn so với phương pháp Archimedes truyền thống. Năm 2014, Tổ chức Tiêu chuẩn ISO Quốc tế đã chính thức giới thiệu phương pháp thay thế thể tích khí để kiểm tra tỷ trọng thực.

Liên hệ

Chi tiêt Xem nhanh

Thiết Bị Phân Tích Nhiệt Đồng Thời STA Series (Simultaneous Thermal Analysis)

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

- STA – Phân tích nhiệt đồng thời là một phương pháp phân tích nhiệt áp dụng đồng thời phân tích nhiệt trọng trường (TGA) và phân tích nhiệt lượng quét vi sai (DSC) cho cùng một mẫu trong một thiết bị duy nhất. Các điều kiện đo phải hoàn toàn giống nhau đối với cả 2 tín hiệu TGA và DSC (cùng một bầu khí quyển, lưu lượng khí, áp suất hơi của mẫu, tốc độ gia nhiệt, tiếp xúc nhiệt với nồi nấu mẫu và cảm biến, hiệu ứng bức xạ, v.v.). - STA Series 650/1000/1200/1500 thế hệ mới của Advanced Measurement Instruments (AMI), tiền thân là Altamira, có hệ phân tích nhiệt đồng thời hiện đại, tích hợp độ phân giải cân siêu nhỏ 0,1 microgam, thuật toán điều khiển thông minh và thiết kế treo mẫu tối ưu. Kết quả là một hệ thống có độ chính xác cao, vận hành ổn định và chi phí hợp lý. STA Series cho phép thực hiện đồng thời TGA và DSC/DTA trên cùng một mẫu chỉ trong một lần chạy. Nhờ đó, người dùng tiết kiệm đáng kể thời gian và vật liệu, đồng thời thu được hồ sơ nhiệt toàn diện.

Liên hệ