IPDS II / 2T Máy nhiễu xạ đơn tinh thể đáng tin cậy dành cho phân tử/protein, nền nhiễu thấp, 2θ 137°.

Lượt xem:
277
Thương hiệu:
Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ
Giá:
Liên hệ

● Một thiết bị duy nhất cho các phân tử nhỏ và protein

● Dải động cao (> 1:10⁵)

● Nền nhiễu cực thấp (không có dòng điện tối)

Introduction

The STOE IPDS series shows unparalleled reliability, is built to serve the scientific needs: e.g. small molecules, proteins and electron density measurements, and gives full accessibility of the sample environment for easy adaptation of high and low temperature attachments as well as high pressure cells.
In addition, the IPDS 2T features the possibility to turn the whole goniometer around the θ axis to an angle of up to 60° yielding a 2θ_max of 137°. Moreover, the possibility to add a second source makes it a diffractometer of unique versatility!
The structure solution of small molecules and proteins as well as electron density determination and powder investigations are no challenge for the IPDS 2T.

One single instrument for small molecules & proteins
High dynamic range (> 1:10⁵)
Extremly low background (no dark current)
Perfect for weak scatterers
Reliable intensities of very weak and very strong reflections within the same frame
Long lifetime, low maintenance, low costs of ownership
Data collection up to 137° in 2θ (2T)
Useful for Co radiation and electron density measurements (2T)

Specifications

STOE IPDS II Diffr offen freigestellt 300dpi v2 1

SYSTEM	IPDS II	IPDS 2T
Max. 2θ:	77°	137°
Goniometer	ω: 180° \| φ: 360°	ω: 180° \| φ: 360° \| 2θ: 0°, 15°, 30°, 45°, 60°
Minimum d/Å	0.45 Ag Kα, 0.57 Mo Kα	0.30 Ag Kα, 0.38 Mo Kα, 0.83 Cu Kα
X-ray sources	Sealed Tubes: Ag, Mo, Cu \| Microfocus sources: Ag, Mo, Cu	Sealed Tubes: Ag, Mo, Cu \| Microfocus sources: Ag, Mo, Cu
Dimensions (Including system cabinet, max.)	1680 x 880 x 2110 mm	1680 x 880 x 2110 mm \| Double Setup: 2050 x 1260 x 2110 mm
Weight (complete system)	490 kg	520 kg \| Double Setup: 700 kg
DETECTOR SPECIFICATIONS
Diameter Image Plate (active area)	340 mm	340 mm
Intrinsic noise	low noise due to absence of dark current	low noise due to absence of dark current
Linear dynamic range	> 1:10⁵	> 1:10⁵

IPDS plate zoom — The IPDS II is a robust work horse diffractometer, yet offers the high precision our instruments are known for

STOE IPDS II Diffr offen freigestellt 300dpi v2 1 (1) — The IPDS 2T can be manually rotated around the 2θ axis, thus offering to map a larger portion of reciprocal space.

Tập tin PDF:

Sản phẩm cùng loại

Chi tiêt Xem nhanh

Máy đo nhiệt trị (Nhiệt lượng kế) SDACM3200

Hãng sx: Sundy - Trung Quốc

SDACM3200 có thể được sử dụng để xác định nhiệt trị của chất cháy rắn và lỏng như than, than cốc, dầu mỏ, bột đen xi măng, nhiên liệu sinh khối cũng như vật liệu xây dựng. Mô hình hiệu quả nhất về chi phí với kết quả đáng tin cậy. Thời gian phân tích ≤14 phút

Liên hệ

Chi tiêt Xem nhanh

STADI P Máy nhiểu xạ X phân tích đặc tính chất xúc tác hiệu quả về chi phí

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

● Nhiều loại đầu dò tia X đếm photon đơn. ● Bức xạ Kα1 tinh khiết sử dụng nguồn Co, Cu, Mo và Ag. ● Chế độ truyền/Debye-Scherrer hoặc Bragg-Brentano.

Liên hệ

Chi tiêt Xem nhanh

STADIVARI Máy nhiễu xạ X dọc/ngang linh hoạt dành cho tinh thể/bột, chùm tia kép, X-AREA

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

● Goniometer linh hoạt (giá đỡ Eulerian và nhiều thiết lập chi cố định khác nhau) ● Vùng nhiễu xạ có bán kính nhỏ hơn 0,005 mm ● Đầu dò pixel lai siêu nhanh (phạm vi đầu dò đầy đủ của EIGER và PILATUS)

Liên hệ

Chi tiêt Xem nhanh

STADI MP Máy nhiễu xạ đa hình học với nhiễu xạ vi mô, đầu dò đa năng, tùy chọn nhiệt độ.

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

● Nhiều đầu dò tia X đếm photon đơn. ● Phụ kiện nhiệt độ cao và thấp. ● Lựa chọn hình học bằng cách trượt vỏ ống.

Liên hệ

Chi tiêt Xem nhanh

Máy nhiễu xạ tia X di động Lattice GO

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

● XRD nhỏ gọn, trọng lượng nhẹ, dễ dàng mang theo. ● Cho kết quả chính xác trong vòng vài phút. ● Phân tích ở bất cứ đâu / Goniometer góc rộng (0°-130°/ -3°-156°).

Liên hệ

$Máy phân tích nhiễu xạ tia X InSight (X-Ray Diffraction)$

Chi tiêt Xem nhanh

Máy phân tích nhiễu xạ tia X InSight (X-Ray Diffraction)

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

● Được thiết kế để kiểm tra nhiễu xạ tia X truyền qua tại chỗ đối với cell dạng túi. ● Thu thập đồng thời dữ liệu nhiễu xạ tia X của cực âm/cực dương. ● Phạm vi kiểm soát nhiệt độ: -30°C đến 300°C.

Liên hệ

Chi tiêt Xem nhanh

Thiết Bị Phân Tích Diện Tích Bề Mặt & Kích Thước Mao Quản Meso

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

- Dòng AMI Meso112/222 được thiết kế để xác định diện tích bề mặt và kích thước lỗ xốp với độ chính xác cao của vật liệu dạng bột. Dòng sản phẩm này bao gồm hai mẫu, Meso 112 và Meso 222, cả hai đều được tích hợp bộ chuyển đổi áp suất 1000 torr tại mỗi trạm phân tích để xác định diện tích bề mặt BET chính xác và phân tích sự phân bố kích thước lỗ xốp trung bình. - Mỗi cổng phân tích được trang bị một mô-đun khử khí tại chỗ có khả năng làm nóng mẫu lên đến 400°C, đảm bảo loại bỏ hiệu quả các chất gây ô nhiễm hấp thụ trước khi phân tích. Quá trình khử khí tại chỗ này giúp loại bỏ nguy cơ ô nhiễm liên quan đến việc chuyển mẫu. Ngoài ra, khi sử dụng nhiều trạm, mỗi trạm hoạt động độc lập, cho phép phân tích đồng thời nhưng riêng biệt các mẫu khác nhau.

Liên hệ

Chi tiêt Xem nhanh

Máy phân tích hấp thụ khí RuboSORP MSB

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

– Phân tích chất hấp thụ trong vật liệu, cho phép đo 02 mẫu đồng thời – Cân treo từ trang được bảo vệ mẫu để tăng cường phản ứng giữa mẫu và môi trường. – Phần mềm được sử dụng để kiểm soát cân và tính toán giá trị

Liên hệ

Chi tiêt Xem nhanh

Máy đo tỷ trọng, thể tích và độ xốp vật liệu Densi 100

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

- Thiết bị sử dụng phương pháp dịch chuyển khí (Gas displacement), với kết cấu nhỏ gọn, không cồng kềnh và các thao tác trở nên đơn giản hơn. - Phương pháp này với ưu điểm chính xác hơn và có khả năng tái tạo hơn so với phương pháp Archimedes truyền thống. Năm 2014, Tổ chức Tiêu chuẩn ISO Quốc tế đã chính thức giới thiệu phương pháp thay thế thể tích khí để kiểm tra tỷ trọng thực.

Liên hệ

Chi tiêt Xem nhanh

Thiết Bị Phân Tích Nhiệt Đồng Thời STA Series (Simultaneous Thermal Analysis)

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

- STA – Phân tích nhiệt đồng thời là một phương pháp phân tích nhiệt áp dụng đồng thời phân tích nhiệt trọng trường (TGA) và phân tích nhiệt lượng quét vi sai (DSC) cho cùng một mẫu trong một thiết bị duy nhất. Các điều kiện đo phải hoàn toàn giống nhau đối với cả 2 tín hiệu TGA và DSC (cùng một bầu khí quyển, lưu lượng khí, áp suất hơi của mẫu, tốc độ gia nhiệt, tiếp xúc nhiệt với nồi nấu mẫu và cảm biến, hiệu ứng bức xạ, v.v.). - STA Series 650/1000/1200/1500 thế hệ mới của Advanced Measurement Instruments (AMI), tiền thân là Altamira, có hệ phân tích nhiệt đồng thời hiện đại, tích hợp độ phân giải cân siêu nhỏ 0,1 microgam, thuật toán điều khiển thông minh và thiết kế treo mẫu tối ưu. Kết quả là một hệ thống có độ chính xác cao, vận hành ổn định và chi phí hợp lý. STA Series cho phép thực hiện đồng thời TGA và DSC/DTA trên cùng một mẫu chỉ trong một lần chạy. Nhờ đó, người dùng tiết kiệm đáng kể thời gian và vật liệu, đồng thời thu được hồ sơ nhiệt toàn diện.

Liên hệ