Thiết bị phân tích quang phổ Huỳnh quang (Spectrofluorometer) cho Công nghệ Nano NANOLOG

Lượt xem:
244
Thương hiệu:
Horiba - Nhật
Giá:
Liên hệ

Thiết bị phân tích quang phổ Huỳnh quang (Spectrofluorometer) cho Công nghệ Nano: tối ưu hóa phát xạ vùng hồng ngoại gần của ống Nanocarbon và chấm lượng tử. Phần mềm phân loại và thực hiện tính toán SWNTs chuyển hóa năng lượng.

Lập ma trận kích thích - phát xạ trong vài giây
Độ nhạy cao trong vùng Hồng ngoại gần với Đầu đo InGaAs độ phân giải cao
Thiết kế mô-đun rất tiện lợi cho việc thiết lập thí nghiệm

Nguồn xenon CW 450 W băng thông rộng, kích thích ánh sáng từ tia cực tím đến hồng ngoại gần
Lập ma trận kích thích - phát xạ trong vài giây
Phổ kế iHR320: chiều dài tiêu cự 320 mm; f/4.1; phân tán = 2.31 nm/ mm; độ phân giải = 0,06 nm (với khe); 03 cách tử. Điều khiển thông qua phần mềm
Đầu thu InGaAs: bước sóng 800-1700 nm; 256 x 1.512 x 1, và 1024 x 1 pixel, độ ồn thấp 650 erms, làm mát nitơ lỏng đạt tỷ lệ tín hiệu/ nhiễu tốt nhất. Tùy chọn đầu thu làm mát nhiệt điện, mở rộng bước sóng (1,1-2,2 mm)
Đầu thu Solid state cho vùng hồng ngoại gần, PMT cho vùng tia cực tím đến hồng ngoại gần, để đo thời gian sống TCSPC (100 ps tới 1 ms), phosphorimeter (1 ms để> 10 giây) và thời gian tương quan tần số (10 ps đến 10 ms) trong vùng tia cực tím đến hồng ngoại gần.

Tập tin PDF:

Sản phẩm cùng loại

Chi tiêt Xem nhanh

Máy kiểm tra độ bền màu ma sát GT-D04

Hãng sx: Gester - Trung Quốc

Tính năng của máy kiểm tra độ bền màu ma sát GT-D04: - Máy kiểm tra độ bền màu ma sát GT-D04 được sử dụng để xác định độ bền màu của vải khi cọ xát khô hoặc ướt. Giá đỡ mẫu acrylic được ghim đảm bảo việc gắn mẫu nhanh chóng và khả năng lặp lại kết quả. - Hộp kim loại AATCC Crockmeter, lớp phủ nướng nhiệt độ cao, bảo trì dễ dàng. - Động cơ điện, được trang bị bộ đếm điện tử được xác định trước cho hành trình lên đến 9999, thử nghiệm hoàn thành thành công, tự động dừng.

Liên hệ

Chi tiêt Xem nhanh

Máy kiểm tra độ bền xé vải GESTER GT-C11B

Hãng sx: Gester - Trung Quốc

Giới thiệu máy kiểm tra độ bền xé vải Gester GT-C11B Máy kiểm tra độ bền xé vải kỹ thuật số này được thiết kế để kiểm tra khả năng chống rách của vật liệu dệt, không dệt theo phương pháp Elmendorf vải, giấy, bìa giấy, màng mỏng, băng thông gió, vật liệu tấm kim loại, v.v.

Liên hệ

Chi tiêt Xem nhanh

Máy kiểm tra độ bền xé Elmendorf GT- C11A

Hãng sx: Gester - Trung Quốc

Ứng dụng: Máy kiểm tra độ xé Elmendorf được thiết kế để kiểm tra độ bền xé của vải dệt, vải không dệt, giấy, bìa cứng, màng mỏng, băng thông gió, vật liệu tấm kim loại, v.v.

Liên hệ

Chi tiêt Xem nhanh

Máy đo độ bụi bẩn dirty, stickies giấy tissue Micro-Scanner

Hãng sx: OpTest - Canada

Micro-Scanner đo độ bẩn có thể nhìn thấy bằng ánh sáng thích hợp và ngưỡng tự động theo Phương pháp thử nghiệm Tappi T563 và ISO 5350-4 [không cần điều chỉnh của người vận hành]. Micro-Scanner cũng đo chất lượng tạo tờ, các điểm tương phản ánh sáng như nhựa (có ánh sáng phản chiếu) hoặc lỗ kim (có ánh sáng truyền qua) và độ đồng đều của hình ảnh in rắn. Thiết bị tiêu chuẩn bao gồm bộ nạp dải và các phép đo bằng ánh sáng phản chiếu hoặc truyền qua.

Liên hệ

Chi tiêt Xem nhanh

Máy phân tích hình thành giấy Paper Perfect (PPF)

Hãng sx: OpTest - Canada

Paper Perfect Formation Analyzer (PPF) cách mạng hóa việc tối ưu hóa chất lượng sản phẩm và năng suất bằng cách đo độ đồng đều của tờ giấy ở các “thang độ hình thành” khác nhau. Kết quả đã được chứng minh là có mối tương quan rất tốt với đánh giá trực quan cũng như với các tính chất vật lý khác của giấy.

Liên hệ