QUANG PHỔ RAMAN và NANO RAMAN (TERS) LABRAM ODYSSEY

Lượt xem:
242
Thương hiệu:
Horiba - Nhật
Giá:
Liên hệ

Kính hiển vi Raman LabRAM Odyssey phù hợp lý tưởng cho cả phép đo vi mô và vĩ mô, đồng thời cung cấp khả năng chụp ảnh đồng tiêu ở dạng 2D và 3D. Kính hiển vi Raman đồng tiêu thực cho phép thu được những hình ảnh chi tiết nhất và phân tích cực nhanh, độ tin cậy cao.

Đây là thiết bị phân tích phổ micro Raman được cơ giới hóa hoàn toàn từ nguồn laser đến detector.
• Độ phân giải quang phổ ưu việt với tiêu cự 800 mm
• Hệ thống tiêu sắc hoàn toàn trong dải 200-2100 nm từ mẫu đến detector
• Chụp ảnh Raman 3D cỡ < micron cực nhanh với công nghệ DuoScan™ và SWIFT™ được cấp bằng sáng chế
• Các phụ kiện quang học chất lượng cao cho công suất tối đa và tuổi thọ lâu dài.
• Độ ổn định và độ chính xác vượt trội nhờ thiết kế chắc chắn và tích hợp thông minh
• Tần số ngưỡng cực thấp xuống 5 cm-1 với thông lượng cao > 70 %
• Được hỗ trợ bởi phần mềm quang phổ hiệu suất cao và trực quan LabSpec 6

Thông số kỹ thuật
Dải bước sóng	UV sâu tới VIS-NIR	tiêu chuẩn 200 nm - 2200 nm (tiêu sắc, không cần thay đổi các bộ phận quang học)
Máy quang phổ hình ảnh	Cấu hình Czerny-Turner	Chiều dài tiêu cự: 800 mm
Nguồn laser	Lên tới 6 nguồn laser được cơ giới hóa	Người sử dụng có thể lựa chọn: 266 nm, 325 nm, 355 nm, 405 nm, 458 nm, 473 nm, 532 nm, 633 nm, 660 nm, 785 nm, 1064 nm Có các bước sóng khác theo yêu cầu
Bộ lọc laser	Không giới hạn	Nhiều bộ lọc (Dielectric, Notch, ULF…) cho mọi ứng dụng
Số lượng cách tử	Không giới hạn
Độ phân giải phổ FWHM	@ bước sóng kích thích 244 nm ≤ 1.5 cm-1 với cách tử 3600 gr/mm @ bước sóng kích thích 532 nm ≤ 0.6 cm-1 với cách tử 1800 gr/mm và ≤ 0.3 cm-1 với cách tử 3000 gr/mm @ bước sóng kích thích 633 nm ≤ 0.4 cm-1 với cách tử 1800 gr/mm và ≤ 0.2 cm-1 với cách tử 2400 gr/mm @ bước sóng kích thích 785 nm ≤ 0.2 cm-1 với cách tử 1800 gr/mm
Tần số cực thấp (ULF)	< 10 cm-1 đo trên lưu huỳnh	Dựa trên Bộ lọc Bragg Khối lượng (VBG). Có sẵn cho các laser kích thích 473, 532, 633 và 785 nm.
Chức năng hiệu chuẩn nội bộ tự động	Các phương pháp AutoCAL & ICS tự động tích hợp sẵn, VRM & VRM OA theo tiêu chuẩn	Tự động hiệu chỉnh cường độ quang phổ và hiệu chuẩn dải đo. VRM đảm bảo độ chính xác không gian cao cho lập bản đồ Raman và kính hiển vi, VRM OA cho phép thay đổi độ phóng đại mà không làm giảm độ chính xác không gian
Chụp ảnh phổ Raman nhanh	Chức năng SWIFT™ được cấp bằng sáng chế	Tương thích với tất cả các vật kính và nguồn laser. Có sẵn 3 dạng tiêu chuẩn: hình ảnh SWIFT™, hình ảnh lặp lại và độ phân giải quang phổ cao XR
Kết nối AFM / SEM	Có	Tương thích với mô-đun NanoRaman và với nanoGPS™ navYX đã được cấp bằng sáng chế cho các phép đo kính hiển vi tương quan.
Kích thước R x S x C (mm)	1300 x 1194 x 473	Độ sâu phụ thuộc vào bệ mẫu XY và bàn laser (tùy chọn). Giá trị này dành cho bệ mẫu 100 x 100 mm và với bàn laser-Class IIIb - không có tùy chọn CDRH
Trọng lượng	~100 kg	Tùy thuộc vào cấu hình
		Tùy chọn nguồn laser CDRH an toàn cấp độ 1

Tập tin PDF:

Sản phẩm cùng loại

Chi tiêt Xem nhanh

Máy kiểm tra độ bền màu ma sát GT-D04

Hãng sx: Gester - Trung Quốc

Tính năng của máy kiểm tra độ bền màu ma sát GT-D04: - Máy kiểm tra độ bền màu ma sát GT-D04 được sử dụng để xác định độ bền màu của vải khi cọ xát khô hoặc ướt. Giá đỡ mẫu acrylic được ghim đảm bảo việc gắn mẫu nhanh chóng và khả năng lặp lại kết quả. - Hộp kim loại AATCC Crockmeter, lớp phủ nướng nhiệt độ cao, bảo trì dễ dàng. - Động cơ điện, được trang bị bộ đếm điện tử được xác định trước cho hành trình lên đến 9999, thử nghiệm hoàn thành thành công, tự động dừng.

Liên hệ

Chi tiêt Xem nhanh

Máy kiểm tra độ bền xé vải GESTER GT-C11B

Hãng sx: Gester - Trung Quốc

Giới thiệu máy kiểm tra độ bền xé vải Gester GT-C11B Máy kiểm tra độ bền xé vải kỹ thuật số này được thiết kế để kiểm tra khả năng chống rách của vật liệu dệt, không dệt theo phương pháp Elmendorf vải, giấy, bìa giấy, màng mỏng, băng thông gió, vật liệu tấm kim loại, v.v.

Liên hệ

Chi tiêt Xem nhanh

Máy kiểm tra độ bền xé Elmendorf GT- C11A

Hãng sx: Gester - Trung Quốc

Ứng dụng: Máy kiểm tra độ xé Elmendorf được thiết kế để kiểm tra độ bền xé của vải dệt, vải không dệt, giấy, bìa cứng, màng mỏng, băng thông gió, vật liệu tấm kim loại, v.v.

Liên hệ

Chi tiêt Xem nhanh

Máy đo độ bụi bẩn dirty, stickies giấy tissue Micro-Scanner

Hãng sx: OpTest - Canada

Micro-Scanner đo độ bẩn có thể nhìn thấy bằng ánh sáng thích hợp và ngưỡng tự động theo Phương pháp thử nghiệm Tappi T563 và ISO 5350-4 [không cần điều chỉnh của người vận hành]. Micro-Scanner cũng đo chất lượng tạo tờ, các điểm tương phản ánh sáng như nhựa (có ánh sáng phản chiếu) hoặc lỗ kim (có ánh sáng truyền qua) và độ đồng đều của hình ảnh in rắn. Thiết bị tiêu chuẩn bao gồm bộ nạp dải và các phép đo bằng ánh sáng phản chiếu hoặc truyền qua.

Liên hệ

Chi tiêt Xem nhanh

Máy phân tích hình thành giấy Paper Perfect (PPF)

Hãng sx: OpTest - Canada

Paper Perfect Formation Analyzer (PPF) cách mạng hóa việc tối ưu hóa chất lượng sản phẩm và năng suất bằng cách đo độ đồng đều của tờ giấy ở các “thang độ hình thành” khác nhau. Kết quả đã được chứng minh là có mối tương quan rất tốt với đánh giá trực quan cũng như với các tính chất vật lý khác của giấy.

Liên hệ