Máy quang phổ đo màu nhựa, ống nhựa Agera L2

Lượt xem:
232
Thương hiệu:
Hunterlab - Mỹ
Giá:
Liên hệ

Linh hoạt. Tất cả hợp lại thành một. Máy đo quang phổ Agera là giải pháp tối ưu để kiểm soát chất lượng bề ngoài.
Với kiểu đo góc 0º/45ºc chu vi hình tròn , 60-degree gloss meter, UV-controllable LED illumination với kiểu chụp hình camera đô phân giải 5-megapixel , Agera làm cho các mẫu định vị và đo màu đơn giản như ảnh chụp nhanh.

Một phép đo duy nhất chụp và lưu trữ hình ảnh trong quá trình phân tích màu sắc với phương pháp đo huỳnh quang và độ bóng. Ngay cả các mẫu lớn cũng không thành vấn đề với diện tích đo tiếp xúc điểm cố định lớn nhất trong ngành.

Máy đo quang phổ Agera với màn hình cảm ứng công nghiệp, phần mềm kiểm soát chất lượng mạnh mẽ và quản lý dữ liệu hiện đại—cùng với các tùy chọn chia sẻ để bạn có thể tận dụng tối đa khoản đầu tư của mình.

Thông số kỹ thuật

1.Sự đo lường

Nguyên lí đo :Máy đo quang phổ phản xạ chùm tia kép / máy đo độ bóng

Hình học: 0°/45°c(chu vi) ASTM E1164

phương pháp đo: Cổng lên hoặc cổng chuyển tiếp

Thời gian đọc: <3 giây.

Hình học bóng: 60 độ (60°)

Chụp ảnh : độ phân giải cao, được chiếu sáng D65, xem hình ảnh 0°/45°, chụp ảnh và thu hổi hình ảnh

Mở cổng và đo diện tích:

Lưu ý : Các lỗ của tấm cổng agera có kích thước quá lớn 3,174mm(1/8inch) để các khu vực được chiếu sáng và quan sát của mẫu không bị ảnh hưởng bởi các cạnh của cổng. Diện tích đo được của Agera được kiểm soát bởi các thấu kính trong hệ thống chứ không phải được kiểm soát bởi kích thước mở tấm cổng. Đây là một lợi thế so với các thiết bị khác ở chỗ tấm cổng ảnh hưởng đến phép đo.

Mở cổng:

Cực lớn: 53,97 mm (2,125 in)
Lớn: 28,57 mm (1,125 in)
Trung bình: 17,47 mm (0,688 in)

Diện tích đo:

Màu sắc: Cực lớn - 50,8 mm (2 in), Lớn - 25,4 mm (1 in), Trung bình - 15,89 mm (5/8 in)
Độ bóng: 8 mm (5/16 in)

2. Kỹ thuật

Phạm vi chiếu sáng: 360nm - 700nm

Dải quang phổ: 400nm-700nm

Thành phần đặc biệt: Bị loại trừ

Độ phân giải quang phổ: <3nm

Băng thông hiệu quả: hình tam giác tương đương 10nm

khoảng thời gian báo cáo: 10nm

phạm vi trắc quan: 0 - 150%

kiểm soát tia cực tím: Bao gồm tia cực tím và loại trừ tia cực tím bằng cách xem và báo cáo dữ liệu tự động. Hiệu chuẩn tại nhà máy với tuỳ chọn của người dùng để hiệu chuẩn theo tiêu chuẩn huỳnh quang cụ thể của họ.

Nguồn sáng: Dải LED cân bằng, quang phổ đầy đủ

Tuổi thọ LED: điển hình là 5 năm

Máy quang phổ: Quang học kín; mảng diode 256 phần tử, phần tử ba chiều lõm có độ phân giải cao

Tập tin PDF:

Sản phẩm cùng loại

Chi tiêt Xem nhanh

STADI P Máy nhiểu xạ X phân tích đặc tính chất xúc tác hiệu quả về chi phí

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

● Nhiều loại đầu dò tia X đếm photon đơn. ● Bức xạ Kα1 tinh khiết sử dụng nguồn Co, Cu, Mo và Ag. ● Chế độ truyền/Debye-Scherrer hoặc Bragg-Brentano.

Liên hệ

Chi tiêt Xem nhanh

STADIVARI Máy nhiễu xạ X dọc/ngang linh hoạt dành cho tinh thể/bột, chùm tia kép, X-AREA

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

● Goniometer linh hoạt (giá đỡ Eulerian và nhiều thiết lập chi cố định khác nhau) ● Vùng nhiễu xạ có bán kính nhỏ hơn 0,005 mm ● Đầu dò pixel lai siêu nhanh (phạm vi đầu dò đầy đủ của EIGER và PILATUS)

Liên hệ

Chi tiêt Xem nhanh

STADI MP Máy nhiễu xạ đa hình học với nhiễu xạ vi mô, đầu dò đa năng, tùy chọn nhiệt độ.

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

● Nhiều đầu dò tia X đếm photon đơn. ● Phụ kiện nhiệt độ cao và thấp. ● Lựa chọn hình học bằng cách trượt vỏ ống.

Liên hệ

Chi tiêt Xem nhanh

Máy nhiễu xạ tia X di động Lattice GO

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

● XRD nhỏ gọn, trọng lượng nhẹ, dễ dàng mang theo. ● Cho kết quả chính xác trong vòng vài phút. ● Phân tích ở bất cứ đâu / Goniometer góc rộng (0°-130°/ -3°-156°).

Liên hệ

$Máy phân tích nhiễu xạ tia X InSight (X-Ray Diffraction)$

Chi tiêt Xem nhanh

Máy phân tích nhiễu xạ tia X InSight (X-Ray Diffraction)

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

● Được thiết kế để kiểm tra nhiễu xạ tia X truyền qua tại chỗ đối với cell dạng túi. ● Thu thập đồng thời dữ liệu nhiễu xạ tia X của cực âm/cực dương. ● Phạm vi kiểm soát nhiệt độ: -30°C đến 300°C.

Liên hệ

Chi tiêt Xem nhanh

Thiết Bị Phân Tích Diện Tích Bề Mặt & Kích Thước Mao Quản Meso

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

- Dòng AMI Meso112/222 được thiết kế để xác định diện tích bề mặt và kích thước lỗ xốp với độ chính xác cao của vật liệu dạng bột. Dòng sản phẩm này bao gồm hai mẫu, Meso 112 và Meso 222, cả hai đều được tích hợp bộ chuyển đổi áp suất 1000 torr tại mỗi trạm phân tích để xác định diện tích bề mặt BET chính xác và phân tích sự phân bố kích thước lỗ xốp trung bình. - Mỗi cổng phân tích được trang bị một mô-đun khử khí tại chỗ có khả năng làm nóng mẫu lên đến 400°C, đảm bảo loại bỏ hiệu quả các chất gây ô nhiễm hấp thụ trước khi phân tích. Quá trình khử khí tại chỗ này giúp loại bỏ nguy cơ ô nhiễm liên quan đến việc chuyển mẫu. Ngoài ra, khi sử dụng nhiều trạm, mỗi trạm hoạt động độc lập, cho phép phân tích đồng thời nhưng riêng biệt các mẫu khác nhau.

Liên hệ

Chi tiêt Xem nhanh

Máy phân tích hấp thụ khí RuboSORP MSB

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

– Phân tích chất hấp thụ trong vật liệu, cho phép đo 02 mẫu đồng thời – Cân treo từ trang được bảo vệ mẫu để tăng cường phản ứng giữa mẫu và môi trường. – Phần mềm được sử dụng để kiểm soát cân và tính toán giá trị

Liên hệ

Chi tiêt Xem nhanh

Máy đo tỷ trọng, thể tích và độ xốp vật liệu Densi 100

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

- Thiết bị sử dụng phương pháp dịch chuyển khí (Gas displacement), với kết cấu nhỏ gọn, không cồng kềnh và các thao tác trở nên đơn giản hơn. - Phương pháp này với ưu điểm chính xác hơn và có khả năng tái tạo hơn so với phương pháp Archimedes truyền thống. Năm 2014, Tổ chức Tiêu chuẩn ISO Quốc tế đã chính thức giới thiệu phương pháp thay thế thể tích khí để kiểm tra tỷ trọng thực.

Liên hệ

Chi tiêt Xem nhanh

Thiết Bị Phân Tích Nhiệt Đồng Thời STA Series (Simultaneous Thermal Analysis)

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

- STA – Phân tích nhiệt đồng thời là một phương pháp phân tích nhiệt áp dụng đồng thời phân tích nhiệt trọng trường (TGA) và phân tích nhiệt lượng quét vi sai (DSC) cho cùng một mẫu trong một thiết bị duy nhất. Các điều kiện đo phải hoàn toàn giống nhau đối với cả 2 tín hiệu TGA và DSC (cùng một bầu khí quyển, lưu lượng khí, áp suất hơi của mẫu, tốc độ gia nhiệt, tiếp xúc nhiệt với nồi nấu mẫu và cảm biến, hiệu ứng bức xạ, v.v.). - STA Series 650/1000/1200/1500 thế hệ mới của Advanced Measurement Instruments (AMI), tiền thân là Altamira, có hệ phân tích nhiệt đồng thời hiện đại, tích hợp độ phân giải cân siêu nhỏ 0,1 microgam, thuật toán điều khiển thông minh và thiết kế treo mẫu tối ưu. Kết quả là một hệ thống có độ chính xác cao, vận hành ổn định và chi phí hợp lý. STA Series cho phép thực hiện đồng thời TGA và DSC/DTA trên cùng một mẫu chỉ trong một lần chạy. Nhờ đó, người dùng tiết kiệm đáng kể thời gian và vật liệu, đồng thời thu được hồ sơ nhiệt toàn diện.

Liên hệ

Chi tiêt Xem nhanh

Máy phân tích nhiệt trọng trường TGA Series (Thermal Gravimetric Analysis)

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

TGA – Phân tích nhiệt trọng trường là một phương pháp phân tích nhiệt được thực hiện trên các mẫu để xác định những thay đổi về trọng lượng liên quan đến sự thay đổi về nhiệt độ. Dòng thiết bị TGA Series 1000/1200/1500 của Advanced Measurement Instruments (AMI) mang đến khả năng phân tích nhiệt trọng lượng đạt chuẩn nghiên cứu với mức giá dễ tiếp cận, kết hợp hiệu suất vượt trội và chất lượng ổn định. Được trang bị vi cân siêu nhạy và lò nung hiện đại, nhỏ gọn, TGA Series đảm bảo độ chính xác cao, giảm thiểu hiệu ứng lực đẩy và cải thiện phản hồi nhiệt vượt trội.

Liên hệ