Máy nhiễu xạ tia X di động Lattice GO

Máy nhiễu xạ tia X di động Lattice GO

  • 313
  • Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ
  • Liên hệ
● XRD nhỏ gọn, trọng lượng nhẹ, dễ dàng mang theo.

● Cho kết quả chính xác trong vòng vài phút.

● Phân tích ở bất cứ đâu / Goniometer góc rộng (0°-130°/ -3°-156°).

Introduction

The Lattice GO redefines portable X-ray diffraction, delivering laboratory-grade performance in a compact, lightweight system. Designed for versatility, it integrates a specialized X-ray source, Bragg-Brentano diffraction geometry, and an advanced 2D array detector to generate high-quality XRD spectra in minutes.

Optimized for field research, on-site quality control, and space-constrained laboratories, the Lattice GO provides high-intensity data with exceptional angular precision, rivaling traditional benchtop systems. Its rugged construction, rapid scanning capability, and user-friendly operation ensure reliable results in any environment.

With the Lattice GO, high-resolution diffraction is no longer confined to the lab—bringing powerful material analysis wherever it’s needed.

Features

Compact and Portable Design

A lightweight, space-efficient system suitable for benchtop use or field deployment, making it ideal for laboratories with limited space or on-site analysis.

Rapid, In-Situ XRD Analysis

Enables immediate diffraction measurements following material synthesis, facilitating real-time screening and informed decision-making.

Laboratory-Grade Data Quality

Delivers high-intensity diffraction patterns with angular precision comparable to full-scale laboratory diffractometers.

Bragg-Brentano Diffraction Geometry

A proven configuration for accurate and reproducible powder diffraction analysis, ensuring high data reliability.

Advanced X-ray Source

Optimized for enhanced signal stability and consistent performance across diverse sample types.

High-Resolution 2D Array Detector

Provides rapid data acquisition with broad angular coverage, capturing high-fidelity diffraction patterns with excellent signal-to-noise ratio.

Optimized Analytical Workflow

Enables efficient sample pre-screening, reducing the need for external testing and improving overall analytical throughput.

Applications

Mineral Industry:

The Lattice GO portable X-ray diffractometer is becoming an essential tool for geological exploration teams, providing rapid, reliable analysis directly in the field. Its ability to perform real-time phase identification and quantitative analysis empowers geologists to make faster, more informed decisions.

• On-Site Mineral Analysis

Qualitative and quantitative identification of mineral phases to support mineralogical research and exploration.

• Geological Feature Evaluation

Analyze surrounding rock structures in mineralization zones to understand ore genesis and mineral distribution.

• Process Optimization

Identify ore formation mechanisms and determine appropriate mining, beneficiation, refining, and smelting methods.

• Core Logging Support

Detect fine-grained fragments, complex lithologies, and subtle mineral changes to guide drilling and stratigraphic interpretation.

• Rapid Ore Quality Assessment

Conduct fast, quantitative mineral content analysis on-site to inform mineral trading and field decisions.

• Urban Resource Recovery

Identify and quantify mineral content from recycled materials for effective urban mining and resource reuse.

AMI Instruments Lattice GO

Sandstone Sample Diffraction Pattern and Standard-Free Quantitative Analysis

AMI Instruments Lattice GO

Zinc Concentrate Diffraction Pattern and Qualitative Analysis

Cultural Heritage:

The Lattice GO enables non-destructive, on-site analysis of culturally significant materials, making it an invaluable tool for conservation scientists, archaeologists, and museums. Its precision and portability support preservation, research, and authentication of priceless artifacts.

• Phase Analysis of Artifact Materials

Identify crystalline phases in bronzeware, ironware, ceramics, pigments, and mural base layers.

• Corrosion and Weathering Studies

Analyze corrosion products and weathering layers to understand degradation mechanisms and guide conservation strategies.

• Restoration and Preservation

Assist in development of preservation techniques for murals, stone relics, and metal artifacts through material characterization.

• Provenance Studies

Determine the geographic origin and production techniques of cultural relics using mineralogical fingerprinting.

• Authentication and Anti-Counterfeiting

Verify authenticity of artifacts by comparing structural signatures to known references.

AMI Instruments Lattice GO

Ancient Ceramic Fragment Diffraction Data and Qualitative Analysis

Security and Drug Safety:

The Lattice GO brings advanced, non-destructive XRD capabilities to law enforcement and forensic science, enabling rapid, on-site analysis with minimal sample preparation. Delivering real-time results, it supports fast, accurate decision-making in critical situations.

On-Site Drug Identification

Perform rapid, non-destructive qualitative and quantitative phase analysis of narcotics, new psychoactive substances (NPS), and precursor materials.

Criminal Investigation Support

Identify and characterize controlled substances in the field to aid forensic investigations and track drug trafficking routes and sources.

Non-Destructive Forensic Testing

Preserve sample integrity while obtaining precise, high-resolution diffraction data for reliable forensic analysis.

Drug and Substance Characterization

Conduct on-site qualitative and quantitative analysis of illicit drugs, counterfeit pharmaceuticals, and precursor materials for trafficking detection and source attribution.

Trace Evidence Analysis

Detect and classify trace compounds such as cyanide, organic contaminants, paper fillers, toxic additives, and soil or mineral fragments from crime scenes or stolen cultural relics.

Security Screening at High-Risk Locations

Rapidly identify illicit substances, explosives, and hazardous materials at border checkpoints, airports, train stations, and public venues.

Explosives and Contaminant Detection

Analyze explosive compounds and their decomposition residues, as well as adulterants such as talcum powder and borax in consumer goods and food products.

AMI Instruments Lattice GO

Heroin Hydrochloride XRD Pattern

Specifications

Lattice Portable-X Portable XRD Analyzer
X-Ray Tube Power 30 W, 30 kV / 1 mA
X-Ray Tube Target Material Cu
Goniometer Theta / 2-theta geometry, radius 110 mm
Detector Photon direct-read two-dimensional array detector
Maximum Scanning Range 0° – 130°
2-Theta Minimum Step Size ±0.01°
Measurement Speed Two speeds available: 6°/min and 12°/min
Battery Runtime 3 hours
Volume & Weight L 4.8 in (120 mm) × W 11.9 in (300 mm) × H 11.9 in (300 mm), 26.5 lbs (12 kg)
AMI Instruments Lattice GO
Ruby Standard Sample (NIST1976)
AMI Instruments Lattice GO
Silicon Powder Measurement Data and Rietveld Structure Refinement

Tập tin PDF:

Tập tin PDF:

Sản phẩm cùng loại

Hãng sx: Sundy - Trung Quốc

SDACM3200 có thể được sử dụng để xác định nhiệt trị của chất cháy rắn và lỏng như than, than cốc, dầu mỏ, bột đen xi măng, nhiên liệu sinh khối cũng như vật liệu xây dựng. Mô hình hiệu quả nhất về chi phí với kết quả đáng tin cậy. Thời gian phân tích ≤14 phút
Liên hệ

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

● Nhiều loại đầu dò tia X đếm photon đơn. ● Bức xạ Kα1 tinh khiết sử dụng nguồn Co, Cu, Mo và Ag. ● Chế độ truyền/Debye-Scherrer hoặc Bragg-Brentano.
Liên hệ

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

● Goniometer linh hoạt (giá đỡ Eulerian và nhiều thiết lập chi cố định khác nhau) ● Vùng nhiễu xạ có bán kính nhỏ hơn 0,005 mm ● Đầu dò pixel lai siêu nhanh (phạm vi đầu dò đầy đủ của EIGER và PILATUS)
Liên hệ

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

● Nhiều đầu dò tia X đếm photon đơn. ● Phụ kiện nhiệt độ cao và thấp. ● Lựa chọn hình học bằng cách trượt vỏ ống.
Liên hệ

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

● Được thiết kế để kiểm tra nhiễu xạ tia X truyền qua tại chỗ đối với cell dạng túi. ● Thu thập đồng thời dữ liệu nhiễu xạ tia X của cực âm/cực dương. ● Phạm vi kiểm soát nhiệt độ: -30°C đến 300°C.
Liên hệ

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

- Dòng AMI Meso112/222 được thiết kế để xác định diện tích bề mặt và kích thước lỗ xốp với độ chính xác cao của vật liệu dạng bột. Dòng sản phẩm này bao gồm hai mẫu, Meso 112 và Meso 222, cả hai đều được tích hợp bộ chuyển đổi áp suất 1000 torr tại mỗi trạm phân tích để xác định diện tích bề mặt BET chính xác và phân tích sự phân bố kích thước lỗ xốp trung bình. - Mỗi cổng phân tích được trang bị một mô-đun khử khí tại chỗ có khả năng làm nóng mẫu lên đến 400°C, đảm bảo loại bỏ hiệu quả các chất gây ô nhiễm hấp thụ trước khi phân tích. Quá trình khử khí tại chỗ này giúp loại bỏ nguy cơ ô nhiễm liên quan đến việc chuyển mẫu. Ngoài ra, khi sử dụng nhiều trạm, mỗi trạm hoạt động độc lập, cho phép phân tích đồng thời nhưng riêng biệt các mẫu khác nhau.
Liên hệ

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

– Phân tích chất hấp thụ trong vật liệu, cho phép đo 02 mẫu đồng thời – Cân treo từ trang được bảo vệ mẫu để tăng cường phản ứng giữa mẫu và môi trường. – Phần mềm được sử dụng để kiểm soát cân và tính toán giá trị
Liên hệ

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

- Thiết bị sử dụng phương pháp dịch chuyển khí (Gas displacement), với kết cấu nhỏ gọn, không cồng kềnh và các thao tác trở nên đơn giản hơn. - Phương pháp này với ưu điểm chính xác hơn và có khả năng tái tạo hơn so với phương pháp Archimedes truyền thống. Năm 2014, Tổ chức Tiêu chuẩn ISO Quốc tế đã chính thức giới thiệu phương pháp thay thế thể tích khí để kiểm tra tỷ trọng thực.
Liên hệ

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

- STA – Phân tích nhiệt đồng thời là một phương pháp phân tích nhiệt áp dụng đồng thời phân tích nhiệt trọng trường (TGA) và phân tích nhiệt lượng quét vi sai (DSC) cho cùng một mẫu trong một thiết bị duy nhất. Các điều kiện đo phải hoàn toàn giống nhau đối với cả 2 tín hiệu TGA và DSC (cùng một bầu khí quyển, lưu lượng khí, áp suất hơi của mẫu, tốc độ gia nhiệt, tiếp xúc nhiệt với nồi nấu mẫu và cảm biến, hiệu ứng bức xạ, v.v.). - STA Series 650/1000/1200/1500 thế hệ mới của Advanced Measurement Instruments (AMI), tiền thân là Altamira, có hệ phân tích nhiệt đồng thời hiện đại, tích hợp độ phân giải cân siêu nhỏ 0,1 microgam, thuật toán điều khiển thông minh và thiết kế treo mẫu tối ưu. Kết quả là một hệ thống có độ chính xác cao, vận hành ổn định và chi phí hợp lý. STA Series cho phép thực hiện đồng thời TGA và DSC/DTA trên cùng một mẫu chỉ trong một lần chạy. Nhờ đó, người dùng tiết kiệm đáng kể thời gian và vật liệu, đồng thời thu được hồ sơ nhiệt toàn diện.
Liên hệ

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

TGA – Phân tích nhiệt trọng trường là một phương pháp phân tích nhiệt được thực hiện trên các mẫu để xác định những thay đổi về trọng lượng liên quan đến sự thay đổi về nhiệt độ. Dòng thiết bị TGA Series 1000/1200/1500 của Advanced Measurement Instruments (AMI) mang đến khả năng phân tích nhiệt trọng lượng đạt chuẩn nghiên cứu với mức giá dễ tiếp cận, kết hợp hiệu suất vượt trội và chất lượng ổn định. Được trang bị vi cân siêu nhạy và lò nung hiện đại, nhỏ gọn, TGA Series đảm bảo độ chính xác cao, giảm thiểu hiệu ứng lực đẩy và cải thiện phản hồi nhiệt vượt trội.
Liên hệ